国产妇女馒头高清泬20P多,亚洲爆乳精品无码一区二区三区,永久免费AV无码网站性色AV,处破女处破全过程

網站首頁技術中心 > 故障測試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀分析
產品中心

Product center

故障測試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀分析

發布時間:2022-07-11 點擊量:657

故障測試儀之-HIT-5000 LSI 抗擾度測試儀

image.png

使用 TLP(傳輸線脈沖)的設備的抗擾度測試儀。
使用ESD槍的符合IEC64000-4-2的設備的抗擾度測試儀很常見,但是當它們到達LSI時,它們會產生振動波形,因此當它們向正方向擺動時會因振動而發生故障。向負方向擺動時無法區分故障和故障的問題。
在該測試儀中,通過將矩形波直接施加到具有低阻抗的 LSI 的引腳上,可以區分正故障和負故障。
通過使用可選的同步單元,可以很好地再現故障事件。
例如,在 CPU 的情況下,通過在 ROM/RAM/IO 訪問的定時施加脈沖噪聲,可以在每個定時進行抗擾度測試。
此外,方波易于建模作為模擬信號源,并有望作為分析工具。

如下圖所示,將連接器插入電源或GND線,連接應用探頭,設置應用電壓和應用次數。圖中,過濾器在外部,過濾器前面的一側在設備內部。由于本設備不具備檢測 LSI 故障的功能,因此需要通過在被測設備上安裝監視器 LED 來采取一些措施來檢測故障。
使用同步單元時,需要將來自LSI的同步信號輸入同步單元。

HIT-5000